Pruebas de precisión de defectos longitudinales

El CIRCOGRAPH DI garantiza la misma calidad de prueba que el CIRCOGRAPH CI con las funciones básicas, solo que este sistema cuenta con una computadora de control integrada. Opcionalmente, el CIRCOGRAPH DI se puede actualizar con funciones opcionales.

La operación, administración y archivo se llevan a cabo a través de una computadora de control conectada externamente. El sistema garantiza una inspección precisa de productos semi-terminados para defectos orientados longitudinalmente en la superficie del material. Los diferentes sistemas de sensores aseguran una adaptación óptima a la tarea de prueba. Debido al diseño compacto del CIRCOGRAPH DI, es posible integrarlo en casi cualquier línea de producción.

 

Sus ventajas:

  • El diseño compacto facilita la integración en los procesos de producción
  • Operación simple gracias a la operación externa
  • El sistema de prueba universal, se puede adaptar a las aplicaciones y requisitos individuales
  • Sistema de prueba de 2 canales
  • Inspección continua o por secciones
  • Resolución de profundidad de defecto desde 30 μm
  • Software operativo intuitivo

Technical Data

Material de prueba: Materiales ferromagnéticos, austeníticos y no ferromagnéticos
Sistema de sensores: Sistema de sensor giratorio con un máximo de dos cabezales de prueba opuestos (Ro 20 y Ro 35)
Frecuencias de excitación: 30 kHz – 1 MHz
Max. rendimiento: 3 m / s durante pruebas continuas
Visualización del defecto: Desde 30 μm en Ro 20 / Ro 35

 Productos Relacionados 

CIRCOGRAPH® DI
foerster_logo

CIRCOGRAPH® DI

Compact entry level model for eddy current testing with rotating sensor system
Ver Equipo